Schmelztemperaturmessung bei der Einkristallzüchtung

Nach dem üblichen Czochralski-Verfahren werden Einkristalle aus einer hochreinen Silizium-Schmelze gezogen und dann in 0,2-0,5 µm dicke Wafer gesägt. Während des Schmelzprozesses des hochreinen Siliziums überwacht ein Quotienten-Pyrometer des Typs ISQ 5 von oben die Temperatur von etwa 1450°C im Kessel.